CHY-CM鍍鋁薄膜鍍鋁紙鍍層厚度測量儀依據(jù)歐姆定律測試各種金屬鍍層的厚度值，適用于各種鍍鋁薄膜、鍍鋁紙、帶有金屬鍍層的薄膜材料等鍍層厚度的測定。通過對鍍層厚度的測定，達到控制與調節(jié)材料表面金屬鍍層厚度的技術指標。    

測試原理

材料金屬鍍層為一段金屬導體，依據(jù)歐姆定律測量單位面積上金屬鍍層的電阻值，根據(jù)測出的電阻值得出金屬鍍層的厚度。

技術特點

高精度接觸式測試，測試結果準確

測試過程一鍵式操作，自動化程度高

7寸大液晶屏顯示，方便參數(shù)設置及數(shù)據(jù)查看

大液晶觸屏操作系統(tǒng)，實時顯示測試電阻值和鍍層厚度值

測試數(shù)據(jù)存儲功能，方便存儲及查詢測試報告

配備微型打印機，快速打印試驗結果

CHY-CM鍍鋁薄膜鍍鋁紙鍍層厚度測量儀標準配置

設備主機、微型打印機

測試應用

技術參數(shù)

測試范圍：50-750A

電阻測量范圍：0.5Ω-5Ω

測試精度：±1%

樣品尺寸：100mm×100mm

夾樣精度：±0.1mm

測溫范圍：0℃ -50℃

溫度精度：±1℃

外形尺寸：380mm×300mm×410mm

重量：20kg